HTRB/HTGB System

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DS2000HP
2020-02-13 10:27:44

DS2000HP

1) Overview
- Vce Voltage stress Range : Max ±2000V (bipolar power).
   Vce Voltage Reading Accuracy : ± 2.0% (@F.S) V.
   Vce Monitor and Power Isolation for all DUT (device under test).
- Available Socket Type : User dependency (TO220, TO247 and etc).
- Current Monitor and Power Isolation for each DUT.
- Oven Temperature : RT ~ 200℃.
- Individual Chip Temperature Control (ICTC) for DUT up to 50~100W.
- Remote diode temperature sensor control & Monitor.
- DUT Temperature Reading with high accuracy.

2) Application
DS2000HP 장비는 고압 및 고전류를 사용하는 전력 반도체 소자(FET, IGBT, POWER Tr), 소신호 Tr, LED 소자 등의 양산 제품 및 연구개발, 시제품 제작 단계 제품의 신뢰성 테스트를 할 수 있는 장치로써, HTRB 전용 신뢰성 시험에 활용되어지는 시스템이다.

DS2000HP 장비는 고온 챔버와 DUT의 개별 온도 제어를 동시 또는 별도로 제어하여 시험소자의 온도, 전류, 전압을 통제하며 다수의 시험 소자에 대하여 온도, 전류, 전압이 개별로 테스트 및 제어가 가능하다.

HTRB 시험은 소자의 Drain-Source간에 고온 역방향 바이어스 (High Temperature Reverse Bias) 를 인가 후 누설 전류와 온도 변화를 장시간(1000시간) 그리고 실시간 모니터 하는 신뢰성 시험이다.


3) Description
DS2000HP 장비는 HTRB 시험시 시험 소자의 누설전류 온도 등 모든 시험 조건의 설정을 PC 응용 프로그램에서 수행하며, 측정 장치와의 실시간 운용이 가능하다.

시험소자의 전류, 온도, 전압을 실시간으로 개별 측정하여 디바이스의 열화 현상을 조기에 파악하고, 인가 전압을 개별로 차단함으로써 시험소자의 과도한 열화 및 열폭주 현상을 차단 할 수 있으며, 다른 시험소자의 시험을 방해하지 않고 설정 시간까지 지속적으로 시험 할 수 있으며, 시험 중 또는 시험 종료 후 Log 데이터를 통해서, 시험 결과를 합리적으로 분석 할 수 있다.

시스템의 Diagnostic Test(자체 검증) 기능을 통하여 본 장치의 이상 유무를 빠른 시간에 검증 할 수 있다.